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　電界放射型走査電子顕微鏡

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　装置外観

電界放射型走査電子顕微鏡.png

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　簡易取扱説明書

fileオープン実験棟：FE-SEM簡易マニュアル2014（井上）.pdf

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　概要

  • 　FE-SEM(日立S-5000H)
  • 　試料サイズ最大9.5x5x2.4mm3
  • 　加速電圧0.5-30keV
  • 　分解能0.6nm（30keV）
  • 　古い装置だがPCへの画像データオプション等を接続し今日の使用にも耐える
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    [電界放射型走査電子顕微鏡]
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添付ファイル: file電界放射型走査電子顕微鏡.png 226件 [詳細] fileオープン実験棟：FE-SEM簡易マニュアル2014（井上）.pdf 7008件 [詳細]
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Last-modified: 2017-12-09 (土) 20:28:15 (2339d)